薄膜厚度测量仪

膜厚测量仪、光学轮廓仪、主动式减震台、膜厚测量仪厂家

热烈庆祝上海交大先进电子材料与器件校级平台正式运行

2018-11-12 16:54:14 admin 14

热烈庆祝上海交大先进电子材料与器件校级平台正式运行,优尼康科技有限公司为该平台提供了优秀的光学膜厚测量系统解决方案,用于快速测量各种介电材料如SiO2,SiNx等,以及光刻胶Photoresist的厚度。

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