薄膜厚度测量仪

膜厚测量仪、光学轮廓仪、主动式减震台、膜厚测量仪厂家

Semicon China 2017半导体展已完满落幕

2018-11-12 16:50:30 admin 79

优尼康科技有限公司参加SEMICON CHINA 2017半导体展已于2017年3月16日在上海博览中心完满落幕。此次展会上我司现场展示了多台美国Filmterics 新型光学薄膜测量设备,包括最新型号3D扫描轮廓仪系统Profilm3D,测量超厚膜系列F1310,测量超薄膜F3-UV,半自动圆晶测量系统F50, F40等多款膜厚测试设备。此次展会取得相当成功,展会期间,除了吸引了不少行业人士前来现场相互交流指导, 也吸引合作伙伴的目光和青睐,我们现场也给客户操作演示及专业的讲解,并获得现场交流人士一致好评。

在未来的发展路上,我司会全力以赴,将我们经营理念“真诚,专注,信赖”服务于大家。

期待2018年半导体展与各界人士再度相会!

 

火爆的人气,源源不断的咨询客户

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展示的机台有profilm 3D, F50, F40, F3, F20等

优尼康大合影

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