SEMICON CHINA 2019 圆满成功-优尼康科技

2019-03-28 16:30:14 李扬 2

SEMICON CHINA 2019半导体展已于2019年3月22日在上海博览中心完满落幕,展期共3天,优尼康科技有限公司携多台设备闪耀亮相了本次展会,其中有多台KLA旗下美国Filmterics 新型光学薄膜测量设备,包括3D扫描轮廓仪系统Profilm3D,测量超厚膜系列F1310,测量超薄膜F3-UV,半自动圆晶测量系统F50, F40等多款膜厚测试设备。另外展出还有FilmSense椭偏仪以及我司开发的MK II跟5050。

展会期间,优尼康家人向广大观展商展示了薄膜厚度测量技术,现场操作演示及专业的讲解,除了吸引了不少行业人士前来现场相互交流指导, 也吸引合作伙伴的目光和青睐,并获得现场交流人士一致好评,此次展会取得圆满成功。

在未来的发展路上,我司会全力以赴,将我们经营理念“真诚,专注,信赖”服务于大家。

期待2020年半导体展与各界人士再度相会!

 

火爆的展会现场

膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|薄膜厚度测量仪|粗糙度测量

膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|薄膜厚度测量仪|粗糙度测量

现场技术交流

膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|薄膜厚度测量仪|粗糙度测量

膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|薄膜厚度测量仪|粗糙度测量

优尼康家人大合照

膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|薄膜厚度测量仪|粗糙度测量