第四代半导体技术研讨会于5月16日在杭州宝盛水博园大酒店圆满结束。此次会议聚焦氧化镓、金刚石、氮化铝三大核心材料展开广泛地交流与探讨，共同推动第四代半导体材料和相关器件的技术突破和产业化进程。

优尼康携Filmetrics F20光学膜厚测量仪、FS-RT300 多波长椭偏仪前来参展，现场观展氛围火热，有不少了解膜厚仪与椭偏仪的客户前来主动交流探讨薄膜测量。